微區(qū)掃描電化學集電化學分析方法于一體
微區(qū)掃描電化學集電化學分析方法于一體
材料腐蝕的電化學測試方法局限于整個樣品的宏觀測試,
測試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機理.為進行局部表面科學研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。近年來，人們一直在探索局部電化學過程的研究。第一代掃描參比電極技術(shù)（SRET）能探測局部腐蝕的發(fā)生。第二代掃描振動電極技術(shù)（SVET）采用振動電極測量局部
（電流，電位〕隨遠離被測電極表面位置的變化。
SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎(chǔ)上，又提出了采用掃描Kelvin振動電極（SKP）測量不同材料表面功函數(shù)。
微區(qū)掃描電化學是集電化學分析方法于一體的電化學通用儀器。微區(qū)掃描電化學能完成線性伏安、循環(huán)伏安、階梯伏安、脈沖伏安、方波伏安等電化學分析方法，還可以完成恒電位極化、恒電流極化，電位、電流、電量階躍和塔菲爾圖、交流阻抗等多項電化學測試功能。微區(qū)掃描電化學是在電化學工作站的基礎(chǔ)上加大輸出電流，提高掃描速度，提高電位、電流分辨率，微區(qū)掃描電化學在電化學測試方法上增加了脈沖電鍍方法、多種交流測試方法而成。微區(qū)掃描電化學系統(tǒng)軟件為方便使用者提供了強大的功能，包括文件管理，全面的實驗控制，靈活的圖形顯示，方便的圖形放大、縮小和還原，位圖圖形和數(shù)據(jù)的導出，多種數(shù)據(jù)處理功能。
出色的性能：快速精準的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設(shè)計。結(jié)合Uniscan獨特的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶可以選擇合適實驗研究的最佳配置
先進和靈活的工作平臺：系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為全球最靈活的電化學掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。
全面的附件：7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。
